搜索
取消
清空記錄
歷史記錄
清空記錄
歷史記錄
瀏覽器自帶分享功能也很好用哦~TH510系列半導(dǎo)體C-V特性分析儀是常州同惠電子根據(jù)當(dāng)前半導(dǎo)體功率器件發(fā)展趨勢，針對半導(dǎo)體材料及功率器件設(shè)計的分析儀器。
儀器采用了一體化集成設(shè)計，二極管、三極管、MOS管及IGBT等半導(dǎo)體功率器件寄生電容、CV特性可一鍵測試，無需頻繁切換接線及設(shè)置參數(shù)，單管功率器件及模組功率器件均可一鍵快速測試，適用于生產(chǎn)線快速測試、自動化集成。
CV曲線掃描分析能力亦能滿足實(shí)驗(yàn)室對半導(dǎo)體材料及功率器件的研發(fā)及分析。
儀器設(shè)計頻率為1kHz-2MHz，VGS電壓可達(dá)±40V，VDS電壓可達(dá)±200V/±1500V/±3000V，足以滿足大多數(shù)功率器件測試。
儀器采用了一體化集成設(shè)計，二極管、三極管、MOS管及IGBT等半導(dǎo)體功率器件寄生電容、CV特性可一鍵測試，無需頻繁切換接線及設(shè)置參數(shù)，單管功率器件及模組功率器件均可一鍵快速測試，適用于生產(chǎn)線快速測試、自動化集成。
CV曲線掃描分析能力亦能滿足實(shí)驗(yàn)室對半導(dǎo)體材料及功率器件的研發(fā)及分析。
儀器設(shè)計頻率為1kHz-2MHz，VGS電壓可達(dá)±40V，VDS電壓可達(dá)±200V/±1500V/±3000V，足以滿足大多數(shù)功率器件測試。
在線客服
客服一
產(chǎn)品詳情
– 一體化設(shè)計：
LCR+VGS低壓源+VDS高壓源+通道切換+上位機(jī)軟件
– 單管器件（點(diǎn)測）、模組器件（列表掃描）、曲線掃描(選件)
三種測試方式
– 四寄生參數(shù)(Ciss、Coss、Crss、Rg或Cies、Coes、Cres、Rg)
同屏一鍵測量及顯示
– 標(biāo)配2通道，可擴(kuò)展至6通道，可測單管、多芯或模組器件
– CV曲線掃描、Ciss-Rg曲線掃描
– 電容快速充電技術(shù)，實(shí)現(xiàn)快速測試
TH510系列 半導(dǎo)體器件C-V特性分析儀
TH510系列半導(dǎo)體C-V特性分析儀是常州同惠電子根據(jù)當(dāng)前半導(dǎo)體功率器件發(fā)展趨勢，針對半導(dǎo)體材料及功率器件設(shè)計的分析儀器。
儀器采用了一體化集成設(shè)計，二極管、三極管、MOS管及IGBT等半導(dǎo)體功率器件寄生電容、CV特性可一鍵測試，無需頻繁切換接線及設(shè)置參數(shù)，單管功率器件及模組功率器件均可一鍵快速測試，適用于生產(chǎn)線快速測試、自動化集成。
CV曲線掃描分析能力亦能滿足實(shí)驗(yàn)室對半導(dǎo)體材料及功率器件的研發(fā)及分析。
儀器設(shè)計頻率為1kHz-2MHz，VGS電壓可達(dá)±40V，VDS電壓可達(dá)±200V/±1500V/±3000V，足以滿足大多數(shù)功率器件測試。
儀器采用了一體化集成設(shè)計，二極管、三極管、MOS管及IGBT等半導(dǎo)體功率器件寄生電容、CV特性可一鍵測試，無需頻繁切換接線及設(shè)置參數(shù)，單管功率器件及模組功率器件均可一鍵快速測試，適用于生產(chǎn)線快速測試、自動化集成。
CV曲線掃描分析能力亦能滿足實(shí)驗(yàn)室對半導(dǎo)體材料及功率器件的研發(fā)及分析。
儀器設(shè)計頻率為1kHz-2MHz，VGS電壓可達(dá)±40V，VDS電壓可達(dá)±200V/±1500V/±3000V，足以滿足大多數(shù)功率器件測試。
產(chǎn)品詳情
– 一體化設(shè)計：
LCR+VGS低壓源+VDS高壓源+通道切換+上位機(jī)軟件
– 單管器件（點(diǎn)測）、模組器件（列表掃描）、曲線掃描(選件)
三種測試方式
– 四寄生參數(shù)(Ciss、Coss、Crss、Rg或Cies、Coes、Cres、Rg)
同屏一鍵測量及顯示
– 標(biāo)配2通道，可擴(kuò)展至6通道，可測單管、多芯或模組器件
– CV曲線掃描、Ciss-Rg曲線掃描
– 電容快速充電技術(shù)，實(shí)現(xiàn)快速測試
選擇區(qū)號